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    電子型束實(shí)驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2020-07-04  |  點(diǎn)擊率:295

     電子束實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):EB-Ⅲ
    用途和目的 
    * 研究電子在電場(chǎng)和磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)變化規(guī)律; 
    * 了解示波管的構(gòu)造和各電的作用; 
    * 掌握電子束在橫向電場(chǎng)作用下電偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律; 
    * 掌握電子束在縱向不均勻電場(chǎng)作用下的電聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律; 
    * 掌握電子束在橫向磁場(chǎng)作用下的磁偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律; 
    * 掌握電子束在縱向磁場(chǎng)作用下的磁聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律,精確地測(cè)定電子荷質(zhì)比。 
    技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn) 
    * 示波管(8SJ31J) 
    * 聚焦電壓:280~380V 
    * 加速電壓:-850~-1300V 
    * 偏轉(zhuǎn)電壓:-80~+80V 
    * Y軸電偏轉(zhuǎn)靈敏度:>0.4mm/V 
    * Y軸磁偏轉(zhuǎn)靈敏度:>0.3mm/mA 
    * 磁聚焦恒流源大輸出電流:2.5A(Ⅱ型自備) 
    * 電子荷質(zhì)比測(cè)量誤差:≤5%